2.2 接触电阻的改进

　　触摸屏幕的压力大小不同，ITO 导电层的电阻值也不同，也就是说轻触或重触触摸屏，产生的电阻是不同的。控制芯片可以测试出接触电阻的阻值大小，但是没法分辨出是轻触，还是重触，这只会影响判断触摸点的准确性，从而会影响整个触摸屏的可靠性。下图是图2是轻触的示意图。

　　图2 触摸屏轻触示意图

　　在现阶段的方案中， 接触电阻和压力成为影响触点坐标准确性的重要因素。如果接触电阻不大于方阻，不会影响坐标显示的准确性；如果大于方阻，就会出现跳跃点。比如，轻触触摸屏上的某一点，会造成电路接通不完全，对整个电路来说，它表现为测量电阻大，测得的值比实际值要大，那么它的坐标将会向后跳跃。与其相反的，如果是用力的重触触摸屏上的某一点时，坐标会前移。由此可见轻触或重触对接触电阻的测量值影响很大，接触电阻和压力成反比。

　　查阅过一些四线电阻式触摸屏的技术手册后发现：他们通常使用接触电阻小于2kΩ 这个测试条件，来测试小压力这个参数。在正常力度的压力下， 一般接触电阻为2kΩ；如果压力更小， 接触电阻则会大于2kΩ。由此可见，实际测量结果与所施加的压力存在动态变化，如果加在同一点上的力量是变化的，那么测量出的坐标点就是不确定的，所以这种测量方法仍然必须改进。

　　在此，分解一次完整的触摸过程：(1) 手指接触到触摸屏表面，(2)手指对触摸屏逐步增加压力，(3) 压力保持，(4) 抬起手指，(5) 手指的压力逐步减小，(6) 手指离开触摸屏，整个触摸过程完成。分解过程之后可以发现，在这个过程中，手指对屏幕的压力并不是一个恒定不变的量。所以，细分整个过程，把不同时期得到的压力和接触电阻电感全部采样，然后求取平均值，那么这个值将更加接近实际数据，这就是用求平均值的根本原因。用求平均值的方法可以模拟整个触摸过程，从而排除掉前期接触、后期接触或者中间接触时压力不稳等情况。

　　这个改进用一个循环来实现，多次执行读取采样函数，然后求平均值。由于A/D 转换的速度很快，这给求平均值提供了有利的基础。按照程序设定，一共采样32 次，在计算求平均值的时候，利用C 语言中的左移，求得平均值。可以把这个求得的和左移5 位，就得到平均值，这种计算方式十分便捷。另一个需要考虑的问题是时间，也就是A/D 转换的速度问题。如果在完成一次触摸的整个过程中，采样的数目越多，对于触摸点平均取值就越接近实际数据，对确认触摸点坐标的影响也就越小。A/D 转换数据读取过程的实现，以及改进后的算法如下：

　　步：接通触摸屏电流，循环读取32 次A/D 转换器的值，并求得这些值的总和。

　　第二步：将求得的总和值左移五位，求得平均值，并把该平均值作为有效的数据。

　　改进后的算法有效避免了不同压力对准确测量电阻值的影响，提高了数据的稳定性和可靠性。可以更加准确定位坐标，特别是屏幕中间区域的触摸点，效果尤其明显。